621.317
   В 47


    Seredyuk, B.
    Influence of the metallic impurities in A3B6 type layered semiconductors on their electrical, magnetic and structural properties / Bohdan Seredyuk // Вимірювальна техніка та метрологія : міжвід. науково-технічний збірник, вид. з 1965 р. / Львів. політех. - Львів : Львівська політехніка, 2017. - Вип. 78. - С. 10-15. - Бібліогр. в кінці ст.
УДК
Рубрики: Електровимірювальна техніка
   Электроизмерительная техника

Кл.слова (ненормовані):
layered semiconductor -- шаруватий напівпровідник -- impedance -- імпеданс -- Bode diagrams -- діаграми Боде -- intercalation -- інтеркаляція


Дод.точки доступу:
Стадник, Б. І. \ред.\; Львівська політехника
Немає відомостей про примірники (Джерело у БД не знайдене)