В 47 Seredyuk, B. Influence of the metallic impurities in A3B6 type layered semiconductors on their electrical, magnetic and structural properties / Bohdan Seredyuk> // Вимірювальна техніка та метрологія : міжвід. науково-технічний збірник, вид. з 1965 р. / Львів. політех. - Львів : Львівська політехніка, 2017. - Вип. 78. - С. 10-15. - Бібліогр. в кінці ст.
Электроизмерительная техника Кл.слова (ненормовані): layered semiconductor -- шаруватий напівпровідник -- impedance -- імпеданс -- Bode diagrams -- діаграми Боде -- intercalation -- інтеркаляція Дод.точки доступу: Стадник, Б. І. \ред.\; Львівська політехника Немає відомостей про примірники (Джерело у БД не знайдене) |