Наукова бібліотека Українського державного університету науки і технологій

Головна

Бази даних

Статті, доповіді, тези- результати пошуку

Вид пошуку

Каталог книг

Каталог книг НМетАУ (до 2022 року)

Періодичні видання (друковані)

Статті, доповіді, тези

Рідкісні та цінні видання

Охоронні документи

Мережеві ресурси

Зона пошуку

Формат представлення знайдених документів:
повний	інформаційний	короткий

Пошуковий запит: <.>K=chemical bath deposition<.>

Загальна кількість знайдених документів : 1

Форма документа : Стаття із журналу
Шифр видання :
Автор(и) : Abubakar D., Mahmoud N., Mahmud Sh.
Назва : Investigation on the structural and optical properties of NiO nanoflakes. Chemical bath deposition of Ni(OH)[[d]]2[[/d]] thin films
Місце публікування : Український фізичний журнал. - Київ, 2017. - Т. 62, № 11. - С. . 964-971: рис. 4, табл. 2
Примітки : Бібліогр.: с. 970-971 (25 назв). - В ОБЛ. БІБЛІОТЕЦІ
УДК : 539
Предметні рубрики: Фізика
Физика
Будова матерії
Строение материи
Ключові слова (''Вільн.індекс.''): annealing temperature--температура відпалу--температура отжига--nanoflakes--нанолусочки--thin films--тонкие пленки--тонкі плівки--chemical bath deposition--метод хімічного осадження--метод химического осаждения--nickel oxide--оксид нікелю--оксид никеля
Анотація: Методом хімічного осадження вирощені пористі нанолусочки окису нікелю NiO. На підкладці оксид індію-олова/скло отримані тонкі плівки і піддані відпалу при змінній температурі в печі. Вивчено та проаналізовано їх структуру, оптичні властивості і морфологію поверхні. Методом емісійної растрової електронної мікроскопії показано присутність нанолусочок у структурі NiO/Ni(OH)[[d]]2[[/d]] тонких плівок. Розміри нанолусочок збільшуються з ростом температури відпалу. Знайдено, що найбільшу площу поверхні має зразок, вирощений при 300 [[p]]о[[/p]]С. Результати енергодисперсійної спектроскопії показують нестехіометрію атомного відношення зразка, що відповідає р-типу NiO тонкої плівки. Методом атомної силової спектроскопії знайдено, що зразок, вирощений при 300 [[p]]о[[/p]]С, має найбільшу шорсткість (47,9 нм). Рентгеноструктурний аналіз показує, що NiO нанолусочки мають кубічну структуру з піками орієнтації (111), (200), і (220). Це особливо чітко проявляється при 300 [[p]]о[[/p]]С. Рентгеноструктурний аналіз також показує відсутність NiO/Ni(OH)[[d]]2[[/d]] піка при відпалі. Вимірювання в ультрафіолеті і видимому світі дають малу ширину забороненої зони 3,80 еВ для 300[[p]]о[[/p]]С через високу кристалічність. Ця температура оптимальна для синтезу NiO нанолусочок високої якості, що важливо для їх застосування в сенсорах.
Перейти к внешнему ресурсу: \\new\textlok\Укр_фізич_журн_2017_11\7.pdf
Знайти схожі

© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)