Головна
Авторизація
Прізвище
№ читательского билета
 

Бази даних


Статті, доповіді, тези- результати пошуку

Вид пошуку

Зона пошуку
Формат представлення знайдених документів:
повнийінформаційнийкороткий
Відсортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком виданнятипом документа
Пошуковий запит: <.>K=нанокластеры<.>
Загальна кількість знайдених документів : 3
Показані документи с 1 за 3
1.


   
    Дослідження систем нанокластерів Si та Ge на поверхні SiO{\dn x}/Si, одержаних методом молекулярно-променевої епітаксії / Ю. М. Козирев [и др.] // Доповіді Національної академії наук України. - 2010. - № 1. - С. 71-76. - Библиогр.: с. 75-76. - В ОБЛ. БИБЛИОТЕКЕ . - ISSN 1025-6415
УДК
ББК 22.379
Рубрики: Физика
   Молекулярная физика в целом

   Фізика

   Молекулярна фізика в цілому

Кл.слова (ненормовані):
фізика -- физика -- матриці -- матрицы -- гетероструктури -- гетероструктуры -- властивості систем -- особенности систем -- транзистори -- транзисторы -- моношарові плівки -- моношаровые пленки -- молекулярно-промінева епітаксія -- молекулярно-лучевая эпитаксия -- нанокластери -- нанокластеры
Анотація: Системи саморганізованих нанокластерів Si та Gе одержано методом молекулярно-променевої епітаксії на первісно аморфному оксидованому шарі SiOx.


Дод.точки доступу:
Козирев, Ю. М. (член-кореспондент НАН України); Картель, М. Т.; Рубежанська, М. Ю.; Скляр, В. К.; Дмитрук, Н. В.; Тайхерт, К.; Хофер, К.
Немає відомостей про примірники (Джерело у БД не знайдене)

Знайти схожі

2.


    Ковальчук, В. (доктор фізико-математичних наук; професор; директор коледжу комп`ютерних технологій; Одеський екологічний університет).
    Кластерна модифікація аморфної матриці / В. Ковальчук, О. Маслій, О. Афанасьєва // Метрологія та прилади. - 2013. - № 6. - С. 54-57. - Бібліогр. в кінці ст. 8 назв. - В ОБЛ. БІБЛІОТЕЦІ
УДК
Рубрики: Метрологія
   Метрология

Кл.слова (ненормовані):
нанокластери -- аморфна матриця -- аморфні матеріали -- нанокластеры -- аморфная матрица -- аморфные материалы -- нанометрология -- нанометрологія
Анотація: Розглянуто можливість управління властивостями аморфних матеріалів за рахунок їх модифікування нанокластерами.

Утримувачі документа:
НБ УІПА

Дод.точки доступу:
Маслій, О. (кандидат педагогічних наук; заступник начальника; Військова академія; м. Одеса); Афанасьєва, О. (старший викладач; Військова академія; м. Одеса)

Знайти схожі

3.


    Томчук, П. М.
    Інтегральні рівняння в загальній теорії поглинання і розсіяння світла металевими нанокластерами / П. М. Томчук // Український фізичний журнал. - 2017. - Т. 62, № 8. - С. 701-712 : рис. 8. - Бібліогр.: с. 711-712 (21 назва). - В ОБЛ. БІБЛІОТЕЦІ
УДК
Рубрики: Фізика
   Физика

   Механічні коливання. Акустика

   Механические колебания. Акустика

Кл.слова (ненормовані):
металеві нанокластери -- металлические нанокластеры -- оптичні властивості -- оптические свойства -- інтегральні рівняння -- интегральные уравнения -- обчислювальні експерименти -- вычислительные эксперименты
Анотація: Проблема поглинання і розсіяння світла металевими нанокластерами зводиться до розв'язку сингулярного інтегрального рівняння усередині наночастинки відносно комплексного вектора напруженості електричного поля. В якості першого варіанту розв'язання інтегрального рівняння вибрано підхід, коли за початкове наближення прийняте дипольне наближення. Обчислювальний експеримент вказує на прийняту узгодженість запропонованого наближення для електричного поля всередині сферичної наночастинки з відомими результатами для оптичних і емісійних властивостей металевих нанокластерів.

Перейти к внешнему ресурсу: \\new\textlok\Укр_фізич_журн_2017_8\9.pdf

Дод.точки доступу:
Старков, В. М.; Бутенко, Д. В.

Знайти схожі

 
© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)