Головна
Авторизація
Прізвище
№ читательского билета
 

Бази даних


Статті, доповіді, тези- результати пошуку

Вид пошуку

Зона пошуку
Формат представлення знайдених документів:
повнийінформаційнийкороткий
Відсортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком виданнятипом документа
Пошуковий запит: <.>K=фоточутливість<.>
Загальна кількість знайдених документів : 2
Показані документи с 1 за 2
1.


    Ковальчук, В. (доктор фізико-математичних наук; Військова академія; м. Одеса).
    Твердотільні датчики на основі гетеропереходів з нанокластерною підсистемою / В. Ковальчук // Метрологія та прилади : науково-виробничий журнал. - 2012. - № 6. - С. 62-64. - Бібліогр. в кінці ст. 7 назв. - 6 рис. - В ОБЛ. БІБЛІОТЕЦІ
УДК
Рубрики: Вимірювальні перетворювачі
   Измерительные преобразователи

Кл.слова (ненормовані):
вимірювальні перетворювачі -- измерительные преобразователи -- нанометрологія -- нанометрология -- інформаційно-вимірювальні системи -- информационно-измерительные системы -- фоточутливість датчиків -- фотовосприимчивость датчиков
Анотація: Розглянуто конструктивні особливості твердотільного датчика на основі гетеропереходу, що має нанокластерну підсистему.


Знайти схожі

2.


    Савкіна, Р. К.
    Ефект наноструктурування Si та GaAs шляхом кавітаційної обробки в рідкому азоті / Р. К. Савкіна, О. Б. Смірнов // Доповіді Національної Академії наук України : Науково-теоретичний журнал. - 2015. - № 7. - С. 70-78 : ил. - Бібліогр. в кінці ст. - В ОБЛ. БІБЛІОТЕКІ . - ISSN 1025-6415
УДК
ББК 22.3
Рубрики: Фізика
   Загальні питання фізики

   Физика

   Общие вопросы физики

Кл.слова (ненормовані):
ультразвукова кавітація -- оптоелектроніка -- напівпровідники -- кріогенна рідина -- кавітаційні порожнини -- фоточутливість -- кремній -- акустична кавітація -- ультразвуковая кавитация -- оптоэлектроника -- полупроводники -- криогенная жидкость -- кавитационные полости -- фоточувствительность -- кремний -- акустическая кавитация
Анотація: Наведено результати комплексних досліджень наноструктурування базових напівпровідників оптоелектроніки Si i GaAs, підданих дії УЗ кавітації в рідкому азоті. Встановлено, що обробка напівпровідникових кристалів GaAs та Si ультразвуком (1-6 МГц, 15 Вт/см2), енергія якого концентрується в кавітаційних порожнинах кріогенної рідини, призводить до наноструктурування їх поверхні та розширення діапазону фоточутливості.


Дод.точки доступу:
Смірнов, О. Б.

Знайти схожі

 
© Міжнародна Асоціація користувачів і розробників електронних бібліотек і нових інформаційних технологій
(Асоціація ЕБНІТ)